金屬電鍍分析儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的儀器，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。
 

　　會(huì)影響金屬電鍍分析儀的因素主要有：

　　1、基體金屬磁性量

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變革的影響(正在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變革能夠認(rèn)為是細(xì)微的)，為了制止熱處置和冷加工因素的影響，應(yīng)使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對(duì)儀器停止校準(zhǔn)，可用待涂覆試件停止校準(zhǔn)。

　　2、基體金屬電性量

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率取其質(zhì)料成分及熱處置辦法有關(guān)。使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對(duì)儀器停止校準(zhǔn)。

　　3、基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于那個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、邊沿效應(yīng)

　　本儀器對(duì)試件外表外形的陡變敏感。因而正在靠近試件邊沿或內(nèi)轉(zhuǎn)角處停止測(cè)量是不成靠的。

　　5、曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。那種影響總是跟著曲率半徑的減少明顯地刪大。因而，正在彎曲試件的外表上測(cè)量是不成靠的。

　　6、試件的變形

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因而正在那些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。